下載地址如下：
http://www.weiss.tech/static/upload/file/20230809/1691546618646595.pdf
GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容主要圍繞電工電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能評(píng)估展開，其概括內(nèi)容如下：
一、標(biāo)準(zhǔn)概述
該標(biāo)準(zhǔn)是中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)發(fā)布的一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)，等同采用IEC 60068-2-1:2007國際標(biāo)準(zhǔn)，旨在通過低溫試驗(yàn)來評(píng)估電工電子產(chǎn)品在低溫條件下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。
二、試驗(yàn)?zāi)康?/span>
試驗(yàn)A：低溫的主要目的是檢驗(yàn)產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能表現(xiàn)、適應(yīng)性和可靠性，包括啟動(dòng)、運(yùn)行、關(guān)機(jī)等操作是否正常，各項(xiàng)功能是否實(shí)現(xiàn)，以及產(chǎn)品的外觀、結(jié)構(gòu)、材料等是否適應(yīng)低溫環(huán)境。
三、試驗(yàn)范圍
該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種電工電子產(chǎn)品，包括但不限于家用電器、信息技術(shù)設(shè)備、儀器儀表等，在低溫環(huán)境下的環(huán)境試驗(yàn)。
四、試驗(yàn)方法
1. 試驗(yàn)分類
根據(jù)樣品特性，低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為非散熱試驗(yàn)樣品和散熱試驗(yàn)樣品兩種類型，具體包括：
非散熱試驗(yàn)樣品：試驗(yàn)Ab，采用溫度漸變的方式進(jìn)行。
散熱試驗(yàn)樣品：
試驗(yàn)Ad，同樣采用溫度漸變，但可能針對(duì)特定散熱需求的樣品。
試驗(yàn)Ae，不僅溫度漸變，且在整個(gè)試驗(yàn)過程中保持樣品通電，以模擬實(shí)際工作狀態(tài)。
2. 試驗(yàn)條件
溫度要求：試驗(yàn)溫度通常選定在-65℃至+5℃之間的某個(gè)恒定值，具體溫度根據(jù)產(chǎn)品特性和使用環(huán)境確定。
持續(xù)時(shí)間：試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間可根據(jù)產(chǎn)品要求和標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整，常見的持續(xù)時(shí)間有2小時(shí)、16小時(shí)、72小時(shí)、96小時(shí)等。
3. 試驗(yàn)設(shè)備
試驗(yàn)通常在高低溫試驗(yàn)箱或恒溫恒濕試驗(yàn)箱中進(jìn)行，這些設(shè)備能夠精確控制試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度和濕度，確保試驗(yàn)條件的穩(wěn)定性和可重復(fù)性。
具體產(chǎn)品介紹請(qǐng)參考頁面：
高低溫試驗(yàn)箱：http://www.www.800bank.com.cn/lm1/27.html
恒溫恒濕試驗(yàn)箱：http://www.www.800bank.com.cn/lm1/25.html
五、試驗(yàn)程序
試驗(yàn)程序包括試驗(yàn)前準(zhǔn)備、樣品安裝、試驗(yàn)執(zhí)行、中間檢測(cè)和試驗(yàn)后處理等步驟。在試驗(yàn)過程中，需要記錄樣品的性能數(shù)據(jù)、外觀變化和功能表現(xiàn)等信息，以便后續(xù)分析和評(píng)估。
六、試驗(yàn)效果評(píng)定
根據(jù)試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能表現(xiàn)、外觀變化和功能實(shí)現(xiàn)情況，評(píng)定其是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)定。若產(chǎn)品出現(xiàn)性能下降、外觀損傷或功能失效等問題，則說明其在低溫環(huán)境下的適應(yīng)性和可靠性不足，需要進(jìn)一步改進(jìn)和優(yōu)化。
七、其他相關(guān)內(nèi)容
標(biāo)準(zhǔn)引用：標(biāo)準(zhǔn)中引用了其他相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)和國際標(biāo)準(zhǔn)，如GB/T 2421、GB/T 2422等，以確保試驗(yàn)方法的科學(xué)性和規(guī)范性。
附錄信息：標(biāo)準(zhǔn)可能包含一些資料性附錄，如試驗(yàn)方法的分類代號(hào)、試驗(yàn)設(shè)備的要求等，為試驗(yàn)人員提供額外的參考和指導(dǎo)。
GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》標(biāo)準(zhǔn)通過詳細(xì)的試驗(yàn)方法和程序，對(duì)電工電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能進(jìn)行了全面評(píng)估，為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)和質(zhì)量控制提供了重要依據(jù)。
可關(guān)注韋斯的公眾號(hào)，了解更多的相關(guān)內(nèi)容！
您的位置：